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北京卓立漢光儀器有限公司推出的NV色心光探測磁共振(ODMR)測試系統(tǒng)可在CW-ODMR和Pulsed-ODMR之間切換。該系統(tǒng)可測試NV色心在磁場下的塞曼分裂,實現(xiàn)高空間分辨率下高靈敏度探測弱磁場信號。通過施加動力學(xué)解耦脈沖序列對NV色心進(jìn)行量子操控,可測試NV色心中的拉比振蕩,哈恩回波,自由弛豫衰減等過程。
光鑷技術(shù)基于光與物質(zhì)之間的動量交換,通過高度聚焦的激光形成光勢阱,當(dāng)激光高度聚焦形成強度分布不均勻的光場(通常為高斯分布)時,微小粒子(其折射率需大于周圍介質(zhì))在梯度力的作用下會被拉向光場最強的區(qū)域(光阱中心),并在散射力等因素的共同作用下被穩(wěn)定地捕獲在那里??蓪ξ⒚?納米級粒子實現(xiàn)非接觸、無損傷的穩(wěn)定捕獲與操控。其核心優(yōu)勢在于高精度、無侵入、多粒子并行處理能力,已成為生物醫(yī)學(xué)、量子科技、膠體物理等領(lǐng)域的關(guān)鍵工具。 光鑷系統(tǒng)通常包括激光光源、用于聚焦激光的高數(shù)值孔徑物鏡、以及精密的定位和探測系統(tǒng)等?,F(xiàn)代的全息光鑷技術(shù)還能通過空間光調(diào)制器 (SLM) 對光波前進(jìn)行調(diào)控,從而同時產(chǎn)生并操控多個光阱,實現(xiàn)了對多個粒子的并行復(fù)雜操作。卓立漢光依托深厚的光機技術(shù)積累,為光鑷系統(tǒng)提供全光路模塊化支持,覆蓋激光調(diào)控、光束整形、多光阱生成、信號探測等關(guān)鍵環(huán)節(jié),助力用戶構(gòu)建高穩(wěn)定性、高重復(fù)性的光鑷實驗平臺。
NV色心是金剛石晶格中的氮-空位缺陷,具備室溫量子相干、光學(xué)讀出自旋態(tài)、納米級空間分辨率、微波相干操控成熟且精準(zhǔn)、生物兼容性等獨特優(yōu)勢。它不僅成為量子計算、量子網(wǎng)絡(luò)和高精度傳感的核心物理體系,更在生物成像、單分子探測和自主導(dǎo)航等領(lǐng)域展現(xiàn)出顛覆性潛力。當(dāng)前NV色心的研究正處于從實驗室走向?qū)嶋H應(yīng)用和產(chǎn)業(yè)化的關(guān)鍵階段,材料制備、儀器設(shè)備、算法與控制等均較為成熟,但大規(guī)模、高一致性地制造性能均勻的NV色心陣列,是量子計算應(yīng)用的核心瓶頸,此外將NV色心傳感器與光、電系統(tǒng)高效集成,實現(xiàn)設(shè)備的小型化與便攜化也是前沿發(fā)展趨勢。 卓立漢光深耕光電技術(shù)多年,圍繞NV色心實驗中的 “激發(fā)-操控-檢測”全光路環(huán)節(jié),提供高精度、高穩(wěn)定性的光學(xué)鏡架、壓電位移、隔振平臺與系統(tǒng)集成方案,助力用戶突破設(shè)備限制,專注科學(xué)發(fā)現(xiàn)。
Micro-LED技術(shù)以其卓越的顯示效果、超長壽命和高度定制化能力,正逐步引領(lǐng)顯示技術(shù)的新一輪革命。然而,該技術(shù)在量產(chǎn)過程中的質(zhì)量與可靠性保障,仍是行業(yè)面臨的核心挑戰(zhàn)。針對這一痛點,卓立漢光推出了專為Micro-LELD設(shè)計的壽命測試系統(tǒng),為產(chǎn)品質(zhì)量提供關(guān)鍵支撐。 卓立漢光Micro-LED壽命測試系統(tǒng)采用高精度的運動機構(gòu)和高穩(wěn)定性溫控平臺(溫度控制精度為±0.1℃或±0.01℃;控制溫度范圍-40℃~120℃,其它范圍可定制;平面均均勻度優(yōu)于±0.3℃,低溫除霜確保光學(xué)性能,支持隔離玻璃透過率矯正),能夠精確模擬和測試Micro-LED在各種極端條件下的壽命表現(xiàn),確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
等離子體作為物質(zhì)的第四態(tài),其產(chǎn)生和演化過程往往發(fā)生在極短的時間尺度內(nèi),包含了豐富的物理和化學(xué)現(xiàn)象。精確捕捉和診斷等離子體的瞬態(tài)動力學(xué)行為,對于基礎(chǔ)物理研究和工業(yè)應(yīng)用(如材料處理、環(huán)境工程、薄膜沉積等)都至關(guān)重要。 近日,重慶大學(xué)電氣工程學(xué)院等離子體先進(jìn)診斷與應(yīng)用團(tuán)隊利用超快診斷技術(shù),對大氣壓下針-針放電過程進(jìn)行了高時空分辨成像研究,揭示了不同實驗參數(shù)下等離子體的形態(tài)演化規(guī)律。同時對氦氣放電等離子體內(nèi)部電場的分布進(jìn)行了一維空間分布測量。